（RE-10894）量子マテリアル評価施設整備【掲載期間：2024年9月10日～2024年9月30日】

（RE-10894） 量子マテリアル評価施設整備【掲載期間：2024年9月10日～2024年9月30日】 公告期間： ～ ( )に付します。 1．競争入札に付する事項仕様書のとおり２．入札書等の提出場所等入札説明書等の交付場所及び入札書等の提出場所並びに問い合わせ先(ダイヤルイン)nyuusatsu_qst@qst.go.jp入札説明書等の交付方法上記２．(1)に記載の交付場所または電子メールにより交付する。 ただし、交付は土曜,日曜,祝日及び年末年始(12月29日～1月3日)を除く平日に行う。 電子メールでの交付希望の場合は、「 公告日,入札件名,当機構担当者名,貴社名,住所,担当者所属,氏名,電話,FAX,E-Mail 」を記載し、上記２．(1)のｱﾄﾞﾚｽに送信。 交付の受付期限は の17:00までとする。 入札説明会の日時及び場所入札関係書類及び 技術審査資料 の提出期限開札の日時及び場所令和6年 9月 10日国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構財 務 部 長 山農 宏之記(1)件 名 量子マテリアル評価施設整備R6.9.10 R6.9.30 製造請負入 札 公 告下記のとおり 一般競争入札(4)履行場所 仕様書のとおり(1)(2)内 容(3)履行期限 令和7年3月28日E-mail：(2)令和6年 9月 30日 (月)〒263-8555 千葉県千葉市稲毛区穴川４丁目９番１号ＴＥＬ 043-382-8044 ＦＡＸ 043-251-7979(4)令和6年 10月 1日 (火) 17時00分(5)(3)実 施 し な い財務部 契約課 新関 輝之令和6年10月15日 (火) 14時00分本部(千葉地区) 入札事務室３．競争に参加する者に必要な資格当機構から指名停止措置を受けている期間中の者でないこと。 全省庁統一競争入札参加資格を有する者であること。 当機構が別に指定する誓約書に暴力団等に該当しない旨の誓約をできること。 ４．入札保証金及び契約保証金 免除５．入札の無効入札参加に必要な資格のない者のした入札入札の条件に違反した者の入札６．契約書等作成の要否 要７．落札者の決定方法８．その他中に当機構ホームページにおいて掲載する。 以上 公告する。 (1)国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 契約事務取扱細則第10条の規定に該当しない者であること。 ただし、未成年者、被保佐人又は被補助人であって、契約締結のために必要な同意を得ている者についてはこの限りでない。 (2)落札決定に当っては、入札書に記載した金額に当該金額の10パーセントに相当する額を加算した金額(当該金額に1円未満の端数があるときは、その端数を切り捨てた金額とする)をもって落札価格とするので、入札者は、消費税に係る課税事業者であるか免税事業者であるかを問わず、見積もった金額の110分の100に相当する金額を入札書に記載すること。 (2)国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 契約事務取扱細則第11条第１項の規定に該当しない者であること。 (3)(4)(5)(1)当機構の定める契約書(契約金額が500万円以上の場合)もしくは請書(契約金額が500万円未満の場合)を作成するものとする。 上記問い合わせ先宛てに質問書を提出すること。 なお、質問に対する回答は令和6年 9月 25日 (水)その他、詳細については、入札説明書によるため、必ず上記２．(2)により、入札説明書の交付を受けること。 (1)この入札に参加を希望する者は、入札書の提出時に、当機構が別に指定する暴力団等に該当しない旨の誓約書を提出しなければならない。 (2)前項の誓約書を提出せず、又は虚偽の誓約をし、若しくは誓約書に反することとなったときは、当該者の入札を無効とするものとする。 (3)(4)本入札に関して質問がある場合には 令和 6年 9月 20日 (金) 17:00までに(2)(1)技術審査に合格し、予定価格の制限の範囲内で、最低価格をもって有効な入札を行った入札者を落札者とする。 (最低価格落札方式) 量子マテリアル評価施設整備国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構仕様書I 一般仕様1. 件名量子マテリアル評価施設整備2. 数量1式3. 目的本件は、量子マテリアルの発光特性等の評価を実施する施設の整備を目的として、大型放射光施設SPring-8 の量子科学技術研究開発機構(以下「量研」という。 )専用ビームラインBL11XUに、量子マテリアルを光検出磁気共鳴法などによって評価できる施設を整備するものである。 4. 仕様 (詳細はII章に定める)量子マテリアル評価施設の整備5. 作業工程本整備は施設の運転スケジュール及び他の作業との干渉を考慮して実施する必要があるため、作業日程等の詳細は別途量研と協議のうえ決定すること。 6. 納入期限令和7年3月28日7. 納入場所兵庫県佐用郡佐用町光都1-1-1大型放射光施設SPring-8 蓄積リング棟 BL11XU8. 納入条件据付調整後渡し9. 提出書類書類名 提出時期 部数 確認確認図 製作着手前 1 要完成図 納品時 ２ 不要試験検査要領書 製作着手前 1 要試験検査成績書 納入後速やかに 1 要取扱説明書 納品時 １ 不要全購入品リスト 納品時 １ 不要納入品目表 納品時 １ 不要(提出場所) 量研 関西光量子科学研究所 放射光科学研究センター 装置・運転管理室 (電子ファイルをメール送信)・ 原則として、図面以外はA4用紙を用いること。 ・ 提出図書は、打合せ時は電子ファイルを提出し、確定時には紙と電子ファイルを提出する。 電子ファイルはWORD又はEXCELファイルと併せてPDFファイルを提出すること。 ・ 構造図および光学系構成図は確認図及び完成図に含めるものとし、構造図については 3D または 2DCADのファイル及び印刷図面を提出すること。 A2以上のサイズの図面は、A3に縮小印刷した図面も添付すること。 ・ 完成図は印刷してA4ファイルに綴じ、表紙と目次を付けた物を「完成図書」として2部提出すること。 また、電子ファイルを CD-R などの記録媒体に収めた物も、上記の「完成図書」に綴じて提出すること。 ただし、記録媒体として USB メモリは不可とする。 完成図書の大型図面は折りたたんで収納すること。 文字が判読できない縮小図は不可とする。 ・ 確認図は打合せ用及び検討用図面に関しても電子可読形式ファイルの提出を求める場合がある。 ・ 確認図には原則として、使用部品の性能表等を添付すること。 ・ 試験検査要領書に記載する試験検査の詳細は、量研との打合せに基づき決定するものとし、試験検査要領書に反映すること。 ・ 取扱説明書には少なくとも次の内容を含むこと。 製作物に関しては量研と打ち合わせのこと。  購入品取扱説明書等 故障時の連絡先・ 購入品取扱説明書等が複数の製品についての記述である場合は、使用部品を明示すること。 ・ 全購入品リストを量研に提出し、購入品取扱説明書等を必要とする部品について指示を仰ぐこと。 なお、追加工した購入品については、その旨明記すること。 ・ 上記の他、設計打合せ段階においても随時購入品取扱説明書等の提出を求める場合がある。 ・ 購入品取扱説明書はトラブルシューティング及び保守交換品について有効な情報を含めること。 ・ 納入品目表には、仕様、性能等を簡潔にまとめること。 10. 検査条件I章9項に定める提出書類の提出、II章５項に示す試験検査項目の合格をもって検査合格とする。 11. 支給品及び貸与品(1)支給品：作業等に必要な電気等は無償で支給とする。 (2)貸与品：ビームライン電源を無償で貸与する。 12. 契約不適合責任契約不適合責任については、契約条項のとおりとする。 13. その他13.1 コンプライアンス受注者は、量研が量子科学技術の研究・開発を行う機関であり、高い技術力及び高い信頼性を社会的に求められていることを認識するとともに、量研の規程等を順守し、安全性に配慮しつつ業務を遂行しうる能力を有する者を従事させること。 13.2 安全管理本仕様に関する設計、製作、搬送、試験検査等は、関係する法令、規格、基準、設置場所における諸規定や量研が定める規定に基づいて行うこと。 特に作業場所は放射線管理区域であり、立ち入るためには国立研究開発法人理化学研究所播磨事業所に対して放射線業務従事者登録、あるいは放射線管理区域一時立入承認申請が必要である。 放射線管理区域一時立入承認申請は量研担当者が実施するため、放射線管理区域一時立入承認申請が必要な場合は量研担当者の指定する日時までに立入者の氏名、所属、連絡先を届け出ること。 13.3 協議事項本仕様に関して疑義が生じた場合には、速やかに量研と協議を行うこと。 13.4 特記事項13.4.1 受注者は業務を実施することにより取得した当該業務及び作業に関する各データ、技術情報、成果その他のすべての資料及び情報を発表もしくは公開し、または特定の第三者に対価をうけ、もしくは無償で提供することはできない。 ただし、あらかじめ書面により量研の承認を受けた場合はこの限りではない。 13.4.2 受注者は異常事態等が発生した場合、量研の指示に従い行動するものとする。 13.5 グリーン購入法の推進本契約において、グリーン購入法(国等による環境物品等の調達の推進等に関する法律)に適合する環境物品(事務用品、ＯＡ機器等)が発生する場合は、これを採用するものとする。 本仕様に定める提出書類(納入印刷物)については、グリーン購入法の基本方針に定める「紙類」の基準を満たしたものであること。 II 技術仕様1. 一般事項受注者は「３. 概要」に示す施設について、「４. 仕様」に定める仕様を満たす施設を設計し、確認図の確認を得ること。 施設製作後、「５.検査・試験」に示す検査・試験を行い、問題なく作動することを確認し、試験検査成績書を作成・提出すること。 2. 運転あるいは使用条件・ 本仕様に定める評価施設は量研専用ビームライン BL11XU に整備予定の量子マテリアル評価用レーザーハッチ内に整備する。 ・ ハッチ部の寸法は、別添資料１を参照すること。 3. 概要名称 量子マテリアル評価施設数量 1式4. 仕様本施設は可視光レーザーを量子マテリアル試料(以下、「試料」という。 )へ照射し、試料で生じた発光を検出するものであり、且つ、その高速2次元走査型の顕微計測を、高周波電場印加条件下で可能とするものである。 4.1 構成本仕様で定める量子マテリアル評価施設は以下の構成である。 ・ 共焦点顕微鏡光学系 入射光学系 検出光学系 走査光学系 顕微観察部・ 高周波発生部・ 検出光測定部・ 架台部各部の詳細は次項に記載する。 4.2 詳細仕様4.2.1 共焦点顕微鏡光学系高感度計測を行なうため、共焦点顕微鏡の光学系を形成するものとする。 入射光レーザーの波長は532nmであり、検出光の波長は637 nm程度である。 高速2次元走査はガルバノミラーによってレーザー位置を試料上で走査する方式とする。 光路としては、図のように入射光レーザーは入射光学系から走査光学系を経て顕微観察部に導かれる。 検出光は同軸で逆に辿り、顕微観察部から走査光学系を経たのち分岐させて検出光学系へ導かれる。 光路は、入射光学系および走査光学系、検出光学系では水平配置とするが、顕微観察部で入射が下向きの正立顕微鏡配置となるようにする。 入射光レーザーの波長は532 nmであるのに対して、検出光は637 nm程度と波長の差があるが、同軸の光路となる顕微観察部と走査光学系で色収差を抑制する光学設計を行う。 また、光学系全体において計測効率を最大化するNAマッチングのとれた光学設計とする。 4.2.1.1 入射光学系試料を励起するための可視光レーザー、および、そこから出射されたレーザー光を、入射光学系共焦点を経て走査光学系に導入するための光学系で構成される。 (入射光レーザーおよび出射部)・ 試料励起用の可視光レーザーは京セラSOC製JUNO532-200(同等品可)とし、波長532 nm、出力200 mW以上のシングルモードレーザーであること。 ・ 可視光レーザーのコントローラ部にキースイッチを備えること。 ・ レーザー射出直後にソレノイドシャッターを設置し、レーザー光の出射、停止を操作可能とすること。 ・ NDフィルターの挿入、切り替えを操作し減光率を変えられるようにすること。 減光率については量研と協議すること。 NDフィルター挿入時に生じる光軸の変位の影響が、空間フィルター直径の10%以下となるようなNDフィルターを使用すること。 (入射光学系光路)・ 入射光学系共焦点位置に切り替え可能なピンホールを設置し、ピンホール径のサイズを変更できるようにする。 このとき±1 µm程度の精度で切替可能にすること。 また、ピンホール位置を共焦点位置に合わせるためのピンホール位置調整機構を有するものとする。 ・ 出射した入射光レーザーはピンホールに集光し、ピンホールを通過したのちに平行化する。 ・ 上記の平行化された入射光に対して、波長純度を高めるための中心波長532 nmのバンドパスフィルターを設置する。 ・ 検出光学系の光路との分岐位置に波長532 nmの入射光と波長637 nm程度の検出光を振り分けるためのダイクロイックミラーを設置する。 これより下流の光路では、入射光路と検出光路は同軸となり、走査光学系へと導かれる。 4.2.1.2検出光学系走査光学系から転送された検出光を検出光学系の共焦点を経て検出光測定部に導入するための光学系である。 ・ 検出光学系共焦点位置に切り替え可能なピンホールを設置し、ピンホール径のサイズを変更できるようにする。 また、ピンホール位置を共焦点位置に合わせるためのピンホール位置調整機構を有するものとする。 ・ 検出光学系共焦点位置がダイクロイックミラーを介して入射光学系共焦点位置と一致させることは、コンフォーカル光学系にとって重要な意味を持つ。 そのため、検出光学系共焦点位置と入射光学系共焦点位置が光学的に一致しているかを確認する機能を有すること。 ・ ダイクロイックミラーを通過し、入射光路から分岐した検出光はピンホールに集光し、ピンホールを通過したのちに平行化する。 ・ 上記の平行化された入射光に対して、波長532 nmを除去するバンドパスフィルターを設置し、これを透過したものを検出光測定部に導入する。 4.2.1.3 走査光学系走査光学系は、入射光学系を経たレーザービームをガルバノミラーに入射し、ビームを走査しつつ像転送レンズ系によって顕微観察部へ転送するとともに、顕微観察部から導かれた検出光を検出光学系へ転送するための光学系である。 ・ ガルバノミラーはNEWPORT FSM-300(同等品可)とし、2軸を備え、角度範囲±1.5度(26.2 mrad)以上制御可能、分解能1 µrad rms以下、再現性3 µrad rms以下、精度0.3 mrad rms以下、かつ、クローズドループ制御機構を備えること。 ・ ガルバノミラーには、アルミ金属膜ミラーを使用すること。 同ミラーはピークパワー30 W、連続パワー15 Wまでの入力に耐えられること。 同ミラーの表面品質は15-5 scratch-dig、表面平坦性λ/10以下であること。 ・ ガルバノミラーのコントローラとして、100 V、60 Hzの電源で動作し、かつ、ミラーの角度をアナログ電圧で制御可能なコントローラを備えること。 ・ 像転送用レンズ系は顕微観察部の対物レンズにレーザービームを転送すること。 ・ 対物レンズの瞳位置は、転送光学系によりガルバノミラーの表面と一致させ、ガルバノミラー及び像転送レンズ系は像の回転とひずみを軽減し、かつ顕微観察部の対物レンズ上での瞳位置のズレがなく、かつ、入射光の偏光を保持し、かつ、入射光と検出光の色収差を抑制する設計、配置とすること。 特に、顕微鏡観察部は正立顕微鏡配置となるが、これらの条件を満たす設計、配置とすること。 4.2.１.4 顕微観察部顕微観察部は正立顕微鏡の配置であり、走査光学系から水平に転送された入射光を 90°曲げて下向きとして対物レンズに入射、集光し、試料ステージ上に固定された試料に照射する。 試料からの発光は対物レンズにより集光され、走査光学系へ転送される。 また、顕微観察部では、共焦点顕微鏡観察とは排他的に、試料調整のための光学顕微鏡観察を行うことができる構成とする。 (対物レンズ部)・ 対物レンズは、倍率50倍と低倍率(5～10倍)対物レンズをレボルバで切り替え可能であること。 ・ 高倍率の対物レンズは倍率 50 倍とし、NA 0.8以上、W.D. 1.0 mm以上、空気対物レンズ、色収差補正アポクロマートであること。 ・ 低倍率の対物レンズの倍率とNA、W.D.は量研と協議のうえ決定すること。 ・ 50倍の対物レンズを使った場合、入射光レーザーのビーム径が0.6 µm以下に絞れるようにすること。 (試料ステージ)・ 試料ステージはXYZの3軸を制御可能なこと。 XY軸は光学定盤に対して水平面内、Z軸は光軸と同軸(光学定盤に対して面直方向)とする。 ・ 試料ステージの可動範囲はX方向15mm以上、Y方向15 mm以上、Z方向10 mm以上、各軸の精度は1 µm以下であること。 ・ 試料ステージは、正立顕微鏡の配置に対応したものとすること。 (光学顕微鏡観察系)・ 光学顕微鏡観察のため、固体カメラ及び白色光源を備えること。 白色光源はレーザーと同軸で試料に照射すること。 ・ 固体カメラの出力はHDMI とし、専用モニタで観察できるようにすること。 ・ 対物レンズの切替えによって、観察倍率を切り替えられるものとする。 ・ 観察視野については量研と協議すること。 4.2.2 高周波発生部高周波発生部は試料と一体化したマイクロ波導波路に高周波電場を供給する。 ・ 高周波発生部はシグナルジェネレータ、アンプ、アンプ用電源、マイクロ波ケーブルにより構成される。 ・ シグナルジェネレータはRIGOL DSG836 (DSG800-PUMオプション付き) (同等品可)とし、100kHz以下から 3.5GHz 以上まで連続的に周波数を変化させたシグナルを出力できること。 外部入力によりDCから1MHzまでのパルス変調が可能であること。 ・ アンプはMini-Circuits ZHL-16W-43-S+ (同等品可)とし、2GHz 以上 4GHz 以下のマイクロ波を利得 40dB 以上で増幅可能であること。 シグナルジェネレータからの入力端子、及びマイクロ波導波路への出力端子としてSMA端子を備えること。 ・ アンプ用電源は100V、60 Hzの電源で動作し、かつアンプを動作させることが可能であること。 ・ シグナルジェネレータとアンプをSMA端子付きマイクロ波ケーブルで接続すること。 ・ アンプの出力端子に SMA 端子付きマイクロ波ケーブルを接続すること。 ケーブルの長さについては量研と協議すること。 4.2.3 検出光測定部検出光測定部は、検出光学系から転送された試料からの発光の強度をアナログ信号に変換し収録するためのもので、検出器及び測定用PCから構成される。 (検出器)・ 検出器はシリコンアバランシェフォトディテクタ (APD)で、波長400～1000 nmに感度をもち、かつminimum NEP 0.05 pW/√Hz以下であること。 出力部としてBNC端子(50Ω)を備えること。 (測定用PC)・ 測定用PCは以下の仕様とする。 ・ 筐体：フルタワー型・ OS：Microsoft Windows 11 Professional・ CPU：インテルCore i5-14500以上・ メモリ：16GB以上・ ストレージ：SSD 1TB以上・ 外部接続ポートとして、USBポート(USB 2.0以上)を4ポート以上、Ethernetポートを1ポート以上備えること。 ・ マザーボードにPCIe x16対応の空スロットを1以上、PCIe x4対応の空スロットを1以上、PCIe x1対応の空スロットを1以上備えること。 ・ 入出力デバイスとして、無線キーボード(US配列)１台、光学式無線マウス 1台、27 インチ液晶ディスプレイ1台を備えること。 4.2.4 架台部架台部は光学定盤と支持脚により構成され、光学定盤上に4.2.1に記載の入射光学系、走査光学系、検出光学系、顕微観察部、および4.2.3に記載の検出器が設置される。 ・ 光学定盤は幅1.8m程度、奥行1m程度、高さ0.7m程度であり、かつ幅1500 mmの扉を通過可能な大きさであること。 光学定盤上のタップ穴はM6、25 mmピッチであること。 支持脚にゴムダンパーによる除振機構、高さ調節機構、およびL字アングル取り付け用のボルト穴、取り外し可能なキャスターを備えること。 ・ 光学定盤上の配置および定盤の固定法、光学定盤の詳細寸法については量研と協議すること。 4.3 据付調整量子マテリアル評価用レーザーハッチ内の量研が指定する場所に据付し、共焦点顕微鏡光学系を最適化するように光学定盤上の各部で必要な調整を行う。 5. 検査・試験本装置に関する試験・検査は以下の各項目を実施すること。 なお、以下の検査を実施するにあたり、事前に試験検査要領書を作成し提出するものとする。 検査終了後は試験検査成績書を提出する。 (1) 製作時(ア) 外観・構成員数検査(イ) 形状・寸法検査(ウ) 出荷時動作試験(2) 設置完了後(エ) 目視検査(オ) 据付調整後動作試験各検査の要領を以下に示す。 (ア) 外観・構成員数検査・ 本評価施設の外観の検査を行い、傷やがたつき等がないことを確認すること。 ・ 本評価施設を構成する機器等の構成員数の確認を行うこと。 (イ) 形状・寸法検査・ 本評価施設を構成する機器等の形状や寸法が、本仕様で指定した、又は協議により決定された値に相違ないことを確認すること。 (ウ) 出荷時動作試験・ 本評価施設を構成する機器等が問題なく動作することを確認すること。 (エ) 目視検査・ 本評価施設の外観や構成員数、形状や寸法等が制作時と相違ないことを確認すること。 特に、傷、汚れ等の有無を確認すること。 (オ) 据付調整後動作試験・ 本評価施設を構成する機器等が設置する環境において問題なく動作することを確認すること。 6. 添付書類別添１：量子マテリアル評価用レーザーハッチ概略図以上(要求者)部課(室)名： 放射光科学研究センター 装置・運転管理室氏 名： 菅原 健人図： 光学系概略図別添資料１